Pesquisador do CDMF faz palestra na Nano TradeShow em SP
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Pesquisador do CDMF faz palestra na Nano TradeShow em SP
A palestra de Orlandi nesta quarta-feira, dia 9, às 10h30, integra a programação científica do evento, na qual especialistas abordarão temas inovadores sobre
09NOV2016| 11:09 José Angelo Santilli
A aplicação da microscopia eletrônica na solução de problemas industriais é o tema da palestra a ser proferida por Marcelo Ornaghi Orlandi, professor do Instituto de Química (IQ) da Unesp, campus de Araraquara, e pesquisador do Centro de Desenvolvimento de Materiais Funcionais (CDMF), durante a Nano Trade Show, que acontece entre os próximos dias 9 e 11 no Centro de Eventos Pro Magno, em São Paulo. A feira tem como objetivo reunir fornecedores de nanotecnologia e inovação, universidades, pesquisadores e indústria.
A palestra de Orlandi nesta quarta-feira, dia 9, às 10h30, integra a programação científica do evento, na qual especialistas abordarão temas inovadores sobre alta tecnologia na Conferência Internacional de Nanotecnologia e Inovação e nos Workshops Setoriais de Inovação.
Marcelo Orlandi é professor do Departamento de Físico-Química, coordenador do Laboratório de Microscopia Eletrônica do IQ/Unesp e pesquisador do CDMF, um dos Centros de Pesquisa, Inovação e Difusão (CEPID) apoiados pela FAPESP.
Credenciado no Programa de Pós-graduação em Ciência e Tecnologia de Materiais (POSMAT), e coordenador do Centro de Caracterização e Desenvolvimento de Protocolos em Nanotecnologia (CCDPN-SisNano), Orlandi realiza diversos projetos de pesquisa, um deles em parceria com colegas do Departamento de Ciência e Engenharia de Materiais do Massachusetts Institute of Technology (MIT), Estados Unidos. Nessa parceria foi desenvolvido um material à base de óxido de estanho (SnO) com capacidade de detectar dióxido de nitrogênio (NO2) muito maior do que os sensores químicos já usados para identificar esse tipo de gás altamente tóxico, formado nas reações de combustão dos motores dos veículos.
“No atual estágio da pesquisa científica é importante, além de simular estruturas, utilizar técnicas avançadas de caracterização de materiais para auxiliar no entendimento da formação e das propriedades dos materiais. Neste sentido, as técnicas de Microsopia Eletrônica de Varredura (MEV) e de Microscopia Eletrônica de Transmissão (MET) são fundamentais para uma completa caracterização do material”, explica Orlandi.
O Laboratório de Microscopia Eletrônica do IQ/Unesp está apto a auxiliar usuários de Universidades e de Empresas na solução de problemas avançados e cotidianos. “Além de auxiliar na caracterização de amostras, ministramos cursos de microscopia eletrônica com o intuito de difundir a técnica entre os mais diversos tipos de usuários”, informa Orlandi.
Para saber mais informações.
E-mail: orlandi@iq.unesp.br. – www.nanotradeshow.com.br
Foto: Vinícius Leme/CDMF
Legenda: Marcelo Ornaghi Orlandi no Laboratório de Microscopia Eletrônica do IQ/Unesp
